التعريف بالعربى | ـ ـ لفحص الأقراص الرقيقة أو الأدوات من أشباة الموصلات ، أو لفحص الأقنعة أوالشبيكات الضوئية المستخدمة في صناعة الأدوات من أشباة الموصلات |
---|---|
التعريف بالإنجليزية | For inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices |
الرمز و التعريفة الجمركية | 90 31 41 00 |